NA 022

DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE

Draft standard [Withdrawn]

DIN EN 60749-41
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 47/2325/CD:2016)

Title (German)

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)

Responsible national committee

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Edition 2017-04
Original language German , English
Price from 106.30 €
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Stipe Mandic

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