Kurzreferat

Dieses Dokument beschreibt den Aufbau und die messtechnischen Eigenschaften von Systemen der Weißlicht-Interferometrie zur flächenhaften Messung der Oberflächentopografie. Da Oberflächenprofile aus Oberflächentopographiedaten extrahiert werden können, lassen sich die in diesem Dokument beschriebenen Methoden auch auf profilhafte Messungen anwenden.

Beginn

2022-10-18

WI

00290256

Geplante Dokumentnummer

DIN EN ISO 25178-604

Projektnummer

15202839

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung  

Norm-Entwurf

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 604: Aufbau und Merkmale von berührungslos messenden Geräten (Weißlicht-Interferometrie) (ISO/DIS 25178-604:2023); Deutsche und Englische Fassung prEN ISO 25178-604:2023
2023-11
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Vorgänger-Dokument(e)

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 604: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (Weißlicht-Interferometrie) (ISO 25178-604:2013); Deutsche Fassung EN ISO 25178-604:2013
2013-12