Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-29
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Ausgabe 2011-08
Originalsprache Deutsch
Preis ab 25,80 €
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