Technische Regel [ZURÜCKGEZOGEN]

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1
Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung

Titel (englisch)

Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement

Ausgabe 2008-03
Originalsprache Deutsch , Englisch
Preis ab 108,60 €
Kaufen beim Beuth Verlag
Inhaltsverzeichnis