NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Projekt

Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung - Zerstörungsfreie Tiefenprofilierung nanoskaliger Schwermetalloxid-Dünnschichten auf Si-Substraten mit mittelenergetischer Ionenstreuung

Beginn

2020-06-29

Geplante Dokumentnummer

ISO/WD 23170

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie 

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen 

Ihr Ansprechpartner

Herr Dr.-Ing.

Michael Schmitt

Saatwinkler Damm 42/43
13627 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2783
Fax: +49 30 2601-42783

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