NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm

DIN ISO 11505
Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (ISO 11505:2012)

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry (ISO 11505:2012)

Einführungsbeitrag

Diese Internationale Norm beschreibt ein Verfahren der optischen Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (GD-OES) zur Bestimmung der Dicke, flächenbezogenen Masse und chemischen Zusammensetzung von Oberflächenschichten. Sie beschränkt sich auf die Beschreibung der allgemeinen Verfahren zur quantitativen GD-OES-Bestimmung und gilt nicht direkt für die quantitative Analyse einzelner Materialien mit veränderlicher Dicke und verschiedenen zu bestimmenden Elementen. Das zuständige deutsche Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-16 "Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie 

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 8 - Glimmentladungsspektroskopie 

Ausgabe 2018-02
Originalsprache Deutsch
Übersetzung Englisch
Preis ab 114,10 €
Inhaltsverzeichnis

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Herr Dr.-Ing.

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