DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)
DIN 32877-2
Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Längenmesseinrichtungen: Optoelektronische Längenmessungen - Teil 2: Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für rückwärtsstreuende Messprinzipien
Geometrical product specification (GPS) - Optoelectronic measurement of length - Part 2: Design characteristics and metrological characteristics for backward scattering measuring principles
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument legt Begriffe und Konstruktionsmerkmale für rückwärtsstreuende optoelektronische Längenmesseinrichtungen fest. Außerdem legt es messtechnische Merkmale, deren Prüfung sowie die Normale zur Prüfung fest. Dieses Dokument soll die Verständigung zwischen Herstellern/Lieferanten und Abnehmer/Anwender erleichtern und eindeutige Spezifikationen ermöglichen. Außerdem ist es als Dokument zur Verwendung in Unternehmen bei der Definition und Auswahl relevanter Merkmale für berührungsfrei arbeitende rückwärtsstreuende optoelektronische Längenmesseinrichtungen vorgesehen. Dieses Dokument wurde vom Unterausschuss NA 152-03-02-07 UA "Längenprüftechnik außer Koordinaten-, Form und Oberflächenmesstechnik sowie Gewindekenngrößen" im Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG) bei DIN ausgearbeitet.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN 32877:2000-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) der Titel der Norm wurde geändert; b) die Norm wurde in drei Teile gegliedert: Teil 1 Grundlagen und Begriffe, Teil 2 Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für rückwärtsstreuende Messprinzipien und Teil 3 Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für vorwärtsstreuende Messprinzipien; c) die normativen Verweisungen wurden aktualisiert; d) die Definitionen der zeitlichen Wiederholpräzision und der örtlichen Wiederholpräzision wurden geändert; e) folgende allgemeinen Begriffe wurden neu aufgenommen: Sendestrahlung, Messstrahlung als Oberbegriff von Sende- und Empfangsstrahlung, vorwärtsstreuende und rückwärtsstreuende Messprinzipien, Messkorridor; f) folgende Begriffe für Messprinzipien beruhend auf Rückwärtsstreuung wurden neu aufgenommen: mittlerer freier Arbeitsabstand, axiale optische Auflösung, Dynamikbereich der Empfangsstrahlungsleistung einer Einzelmessung; g) das chromatische-konfokale Messprinzip und das absolut messende interferometrische Messprinzip wurden aufgenommen. Erläuterungen zum Fokussiermessprinzip wurden entfernt; h) der Abschnitt zu "Prüfkörpern" wurde in "Normale" umbenannt, überarbeitet und um weitere Normale ergänzt. Die Nummerierung wurde geändert; i) der Abschnitt zur "Durchführung" wurde in "Kalibrierung und Verifikation" umbenannt, überarbeitet und unter anderem um die Bestimmung der axialen optischen Auflösung und die Bestimmung des Dynamikbereichs der Empfangsstrahlung bei einer Einzelmessung ergänzt; j) ein Schemabild zu optoelektronischen Längenmesseinrichtungen wurde neu aufgenommen, das zur Erläuterung des Streuwinkels für die Unterscheidung von vorwärtsstreuenden und rückwärtsstreuenden Messprinzipien dient; k) das Bild zum Triangulationsmessprinzip wurde korrigiert und die Beschriftung neu nummeriert. Das Bild zum Fokussiermessprinzip entfällt. Die Bilder zum Scanningmessprinzip wurden korrigiert und die Beschriftungen neu nummeriert. Ein Bild zum chromatische-konfokalen Messprinzip wurde neu aufgenommen. Ein Bild zum absolut messenden interferometrischen Messprinzip wurde neu aufgenommen. Ein Bild zur Sprungantwortzeit bezüglich einer sprunghaften Änderung der Messgröße wurde neu aufgenommen. Zwei Bilder zur simultanen Messung des Abstands zur Vorderseite und zur Rückseite eines teiltransparenten Prüfgegenstands wurden neu aufgenommen. Skizzen der 11 Normale wurden neu aufgenommen.
