DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)
DIN 32877-1
Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Längenmesseinrichtungen: Optoelektronische Längenmessungen - Teil 1: Grundlagen und Begriffe
Geometrical product specification (GPS) - Distance measurement equipment: Optoelectronic measurement of length - Part 1: Basic principles and terms
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument legt allgemeine Grundlagen, Begriffe und Definitionen für berührungsfrei arbeitende optoelektronische Längenmesseinrichtungen fest. Es bezieht sich auf optoelektronische Längenmesseinrichtungen, die in der Produktions- und Prüftechnik zum Einsatz kommen und deren Messbereiche von 100 µm bis zu 1 m reichen. Solche optoelektronischen Längenmesseinrichtungen beruhen beispielsweise auf dem Triangulationsmessprinzip, dem chromatisch-konfokalen Messprinzip, der absolut messenden Interferometrie oder dem Scanningmessprinzip. Dieses Dokument wurde vom Unterausschuss NA 152-03-02-07 UA "Längenprüftechnik außer Koordinaten-, Form und Oberflächenmesstechnik sowie Gewindekenngrößen" im Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG) bei DIN ausgearbeitet.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN 32877:2000-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) der Titel der Norm wurde geändert; b) die Norm wurde in drei Teile gegliedert: - Teil 1 "Grundlagen und Begriffe"; - Teil 2 "Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für rückwärtsstreuende Messprinzipien"; und - Teil 3 "Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für vorwärtsstreuende Messprinzipien"; c) die normativen Verweisungen wurden aktualisiert; d) folgende allgemeine Begriffe wurden neu aufgenommen: Sendestrahlung, Messstrahlung als Oberbegriff von Sende- und Empfangsstrahlung, vorwärtsstreuende und rückwärtsstreuende Messprinzipien; e) folgender Begriff für Messprinzipien beruhend auf Rückwärtsstreuung wurde neu aufgenommen: mittlerer freier Arbeitsabstand; f) das chromatisch-konfokale Messprinzip und das absolut messende interferometrische Messprinzip wurden aufgenommen. Erläuterungen zum Fokussiermessprinzip wurden entfernt; g) ein Schemabild zu optoelektronischen Längenmesseinrichtungen wurde neu aufgenommen, das zur Erläuterung des Streuwinkels für die Unterscheidung von vorwärtsstreuenden und rückwärtsstreuenden Messprinzipien dient; h) das Bild zum Triangulationsmessprinzip wurde korrigiert und die Beschriftung neu nummeriert. Das Bild zum Fokussiermessprinzip entfällt. Die Bilder zum Scanningmessprinzip wurden korrigiert und die Beschriftungen neu nummeriert. Ein Bild zum chromatisch-konfokalen Messprinzip wurde neu aufgenommen. Ein Bild zum absolut messenden interferometrischen Messprinzip wurde neu aufgenommen.
