DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60679-6
Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzoszillatoren und OFW-Oszillatoren - Leitfaden für die Anwendung (IEC 60679-6:2011); Deutsche Fassung EN 60679-6:2011
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines (IEC 60679-6:2011); German version EN 60679-6:2011
Einführungsbeitrag
Dieser Teil der Normenreihe IEC 60679 gilt für die Phasenjittermessung von Quarz- und OFW-Oszillatoren, die in elektronischen Geräten verwendet werden, und gibt Anleitung zu Phasenjitter, mit der die genaue Messung des RMS-Jitters möglich wird. Bei diesem Messverfahren wird eine Messeinrichtung für das Phasenrauschen oder ein Messsystem für das Phasenrauschen eingesetzt. Die Messfrequenz umfasst den Bereich von 10 MHz bis 1 000 MHz. Diese Norm gilt für Quarz- und OFW-Oszillatoren, deren Einsatz in elektronischen Geräten und Modulen erfolgt, die Multiplikations- oder Divisionsfunktionen haben, bei denen sie die Oszillatoren als Basis verwenden. Die Art des für diese Oszillatoren geltenden Phasenjitters ist der RMS-Jitter. Im nachfolgenden Text werden diese Oszillatoren und Module zur Vereinfachung als "Oszillator(en)" bezeichnet. Zuständig ist das K 642 "Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 642 - Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion
