DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN IEC 60749-26
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) - Bauelementeniveau (IEC 47/2101A/CDV:2011)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge sensitivity testing - Human body model (HBM) - Component Level (IEC 47/2101A/CDV:2011)
Einführungsbeitrag
In diesem Dokument wird das Verfahren für die Prüfung, Bewertung und Klassifizierung von Bauelementen und Mikroschaltungen nach ihrer Störanfälligkeit (Empfindlichkeit) gegen Beschädigung oder Funktionsbeeinträchtigung festgelegt, wenn diese Bauelemente mit den im Human-Body-Modell (HBM) festgelegten elektrostatischen Entladungen (ESD) beansprucht werden. Zweck dieses Dokuments ist die Festlegung eines Prüfverfahrens, mit dem wiederholbare HBM-Ausfälle erzeugt werden und welches ungeachtet des Bauelementetyps zuverlässige und wiederholbare HBM-ESD-Prüfergebnisse von Prüfeinrichtung zu Prüfeinrichtung liefert. Die Wiederholbarkeit der Daten lässt präzise Klassifizierungen und Vergleiche der HBM-ESD-Empfindlichkeitspegel zu. Das internationale Dokument IEC 47/2101A/CDV:2011 "Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge sensitivity testing - Human body model (HBM) - Component Level" (CDV, en: Committee Draft for Vote) ist unverändert in diesen Norm-Entwurf übernommen worden. Dieser Norm-Entwurf enthält eine noch nicht autorisierte deutsche Übersetzung. Um Zweifelsfälle in der Übersetzung auszuschließen, ist die englische Originalfassung des CDV entsprechend der diesbezüglich durch die IEC erteilten Erlaubnis beigefügt, wurde vom TC 47 "Semiconductor devices" der Internationalen Elektrotechnischen Kommission (IEC) erarbeitet und den nationalen Komitees zur Stellungnahme und Abstimmung vorgelegt. Das internationale Dokument IEC 47/2101/CDV ist der ANSI/ESDA/JEDEC-Standard JS-001-2010, welcher vom US-NC als Ersatz für die bestehende Internationale Norm IEC 60749-26 im Zuge des beschleunigten Annahmeverfahrens (fast track procedure entsprechend F.2 der ISO/IEC-Direktiven, Teil 1) vorgeschlagen wurde. Daher wird es jedoch nicht zeitgleich (parallel) bei IEC und CENELEC zur Umfrage gestellt. Derzeit ist also nicht vorgesehen, dieses Dokument als Europäische Norm zu übernehmen. Vielmehr dient es derzeit als Diskussionsgrundlage, inwieweit sich die Festlegungen aus beiden Dokumenten vereinheitlichen lassen. Dementsprechend berücksichtigt das Dokument nicht die Festlegungen von IEC 61340-3-1:2006-12 Electrostatics - Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects - Human body model (HBM) electrostatic discharge test waveforms (übernommen als DIN EN 61340-3-1 (VDE 0300-3-1):2008-03 Elektrostatik - Teil 3-1: Verfahren zur Simulation elektrostatischer Effekte - Prüfpulsformen der elektrostatischen Entladung für das Human Body Model (HBM) (IEC 61340-3-1:2006); Deutsche Fassung EN 61340-3-1:2007). Ebenso wird bezüglich der Terminologie nicht auf das Internationale Elektrotechnische Wörterbuch (IEV) verwiesen und die formalen Festlegungen für die Gestaltung einer Internationalen Norm nach den ISO/IEC-Direktiven Teil 2 werden nicht berücksichtigt. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749-26:2007-01 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) vollständige Änderung der bisherigen Festlegungen, so dass sie dem ANSI/ESDA/JEDEC-Standard JS 001-2010 entsprechen.
